掃描電子顯微鏡
JEOL掃描電子顯微鏡
掃描電子顯微鏡(scanning electron microscope,SEM)于20世紀60年代問世,用來觀察標本的表面結(jié)構(gòu)。其工作原理是用一束極細的電子束掃描樣品,在樣品表面激發(fā)出次級電子,次級電子的多少與電子束入射角有關(guān),也就是說與樣品的表面結(jié)構(gòu)有關(guān),次級電子由探測體收集,并在那里被閃爍器轉(zhuǎn)變?yōu)楣庑盘,再?jīng)光電倍增管和放大器轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘杹砜刂茻晒馄辽想娮邮膹姸,顯示出與電子束同步的掃描圖像。圖像為立體形象,反映了標本的表面結(jié)構(gòu)。為了使標本表面發(fā)射出次級電子,標本在固定、脫水后,要噴涂上一層重金屬微粒,重金屬在電子束的轟擊下發(fā)出次級電子信號。
目前掃描電鏡的分辨力為6~10nm,人眼能夠區(qū)別熒光屏上兩個相距0.2mm的光點,則掃描電鏡的最大有效放大倍率為0.2mm/10nm=20000X。
光學顯微鏡、TEM、SEM成像原理比較
人類血細胞SEM照片