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基線是氣相色譜儀運(yùn)行中，性能的綜合表現(xiàn)，組成儀器的各部分發(fā)生故障、操作條件和外界條件的變化等因素都會(huì)反映到基線上，因此可以根據(jù)基線(色譜圖)判斷故障的原因和部位。應(yīng)當(dāng)指出，用此方法分析排除故障，還應(yīng)注意以下幾點(diǎn)：
⑴ 基線狀態(tài)是否準(zhǔn)說(shuō)明儀器有故障是相對(duì)而不是絕對(duì)的，如基線在高靈敏度時(shí)呈現(xiàn)噪聲很大，而在低靈敏度時(shí)比較好，若分析要求在低靈敏度下可以完成，就可以認(rèn)為儀器是正常的，反之不正常。
⑵ 再此討論的基線（色譜峰）異變，是指按已知色譜分析方法操作時(shí)，得到的色譜圖與沒(méi)有問(wèn)題的已知色譜圖比較，出現(xiàn)某些組分峰畸變、“鬼峰”或基線不正常。或者說(shuō)，對(duì)于一個(gè)正在使用的色譜分析方法，由于不要求或出于無(wú)奈時(shí)，有些峰分不開(kāi)、拖尾或峰型不對(duì)稱等并不影響方法的實(shí)施，就不屬于儀器有故障，否則應(yīng)重新修改、審定原來(lái)的色譜分析方法。
⑶ 由于使用了來(lái)路不明的樣品、不能確保純凈的氣源或沒(méi)有經(jīng)過(guò)充分老化或評(píng)價(jià)過(guò)的色譜柱等等而造成的儀器被污染、基線不穩(wěn)、峰分不開(kāi)和峰拖尾等，純屬誤操作，也不適合使用此方法所列實(shí)例來(lái)分析排除故障。
⑷ 另外在使用整機(jī)基線（色譜圖）異常，分析排除故障前最好先做以下三點(diǎn)工作：
① 第一，仔細(xì)核查操作條件，是否與分析方法要求一致；
② 第二，懷疑有了故障色譜圖和所存的標(biāo)準(zhǔn)色譜圖對(duì)照，判斷是否真出了問(wèn)題，千萬(wàn)不要盲目檢修儀器；
③ 第三 ，逐項(xiàng)仔細(xì)觀察儀器或設(shè)備工作狀態(tài)，看是否存在誤操作。
1 儀器基線噪聲大
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可能原因
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排除方法
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說(shuō)明
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1
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儀器在極限（或接近）靈敏度下工作
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正常
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不同儀器配用不同檢測(cè)器噪聲大小不同
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2
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數(shù)據(jù)處理工作站量程設(shè)置過(guò)小
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正常
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∠0.5mV以下時(shí)
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3
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色譜分析方法允許
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正常
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為尋找定性小組分峰
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4
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記錄儀、積分儀或工作站固有噪聲
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正常
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看能否滿足要求而定
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5
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儀器輸出信號(hào)線接觸不良
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檢查重新連接
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6
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分析要求使儀器從低量程調(diào)到高量程操作時(shí)
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需吹洗一天或更長(zhǎng)，時(shí)間視量程變化大小而定
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長(zhǎng)時(shí)間吹洗仍無(wú)法穩(wěn)定，要清洗進(jìn)樣器和檢測(cè)器及有關(guān)連接件
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7
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電源大幅度變化或波動(dòng)后
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正在穩(wěn)定過(guò)程中
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8
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檢測(cè)器被污染
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清洗
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不同檢測(cè)器清洗方法不同
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9
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檢測(cè)器供電信號(hào)線、極化線損傷或接觸不良
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檢修或更換
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10
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TCD熱絲氧化損傷后無(wú)法修復(fù)
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更換
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11
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FID火焰氣流比沒(méi)有調(diào)到較佳或火焰偏大
|
重新調(diào)整火焰大小
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12
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FID體溫度偏低產(chǎn)生了冷凝水
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升高FID溫度
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13
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ECD進(jìn)樣量大或樣品較臟之后
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正在恢復(fù)中
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14
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FPD光電倍增管老化嚴(yán)重
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不能滿足要求時(shí)更換
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15
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NPD氫氣流量過(guò)大（或堿珠溫度過(guò)高）
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適當(dāng)減小
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16
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更換了氣源或凈化器失活
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核實(shí)更正或更換凈化器
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檢測(cè)器或分析要求不同氣體的純度要求有較大差別
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17
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鋼瓶氣源壓力低后污染物大量流出
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更換新氣源
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18
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儀器內(nèi)設(shè)置的凈化器受污染后的影響
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活化或更換凈化器
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操作選擇性檢測(cè)器（ECD、NPD）更應(yīng)注意
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19
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氣路系統(tǒng)漏氣
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重新檢漏
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不同檢測(cè)器靈敏度不同對(duì)氣路密封要求不同
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20
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離子化檢測(cè)器配用微電流放大器故障（含供電電源）
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檢修
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參考說(shuō)明書(shū)，可單獨(dú)觀察基線噪聲給予檢修
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21
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FID、NPD等電場(chǎng)電壓波動(dòng)
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檢修
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22
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采用流失大或沒(méi)有老化的注射隔墊
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更正
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23
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忘記打開(kāi)隔墊清洗氣路
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打開(kāi)
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24
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汽化襯管中有注射隔墊碎屑或密封材料碎渣
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更換
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26
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樣品在進(jìn)樣器中被催化分解
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清洗或更換襯管
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27
|
填充柱柱頭多次進(jìn)樣后被嚴(yán)重污染
|
清除或更換新柱
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28
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色譜柱沒(méi)有按要求定時(shí)活化再生
|
按要求活化或再生
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29
|
色譜柱壽命已到（失效）
|
更換
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再生已無(wú)作用時(shí)
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30
|
對(duì)氧或某些溶劑敏感的固定相被分解流失
|
消除引起固定相過(guò)渡流失的原因
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31
|
環(huán)境因素影響（溫度、壓力、電磁或振動(dòng)等）
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消除
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|
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32
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數(shù)據(jù)處理裝置改變了判峰參數(shù)（如半峰寬或斜率等）
|
重新設(shè)置
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33
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使用了老化不徹底的新色譜柱
|
再加長(zhǎng)老化時(shí)間
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34
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應(yīng)用新柱時(shí)安裝尺寸不當(dāng)或插入檢測(cè)器部分的固定相在流失（分解）
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||
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35
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帶催化反應(yīng)裝置用催化劑初用或失效引起
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等待或更換
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|
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36
|
錯(cuò)用溶劑、樣品或被污染的注射器
|
更換
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2 儀器基線漂移大
|
可能原因
|
排除方法
|
說(shuō)明
|
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1
|
溫度、檢測(cè)器的工作狀態(tài)正在穩(wěn)定過(guò)程中（TCD方向不定、FID向基流小的方向、ECD向基流大的方向后再減小等）
|
等待
|
不同儀器不同要求，啟動(dòng)到穩(wěn)定一般不超過(guò)2小時(shí)，否則要另找原因
|
|
2
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被污染的注樣器、色譜柱或檢測(cè)器正在不斷流出污染物
|
等待穩(wěn)定
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通常要調(diào)整條件，使其加快流出時(shí)間
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|
3
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更換了不純潔氣源后
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增加凈化器或更換干凈氣源
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確認(rèn)氣源的干凈程度后更換
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4
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用了新的注射隔墊或新襯管（漂移由大而�。�
|
等待
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避免使用被污染的配件
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5
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樣品中高沸點(diǎn)的組分，在第二天或更長(zhǎng)時(shí)間后流出色譜柱
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清洗或再生色譜柱
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漂移一般呈現(xiàn)饅頭型峰
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6
|
色譜柱在失效過(guò)程中
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正常，盡量消除氧等有害組分進(jìn)入色譜柱
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極性比非極性柱可能性大
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7
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檢測(cè)器配用的電源放大器在漂移中
|
檢修
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|
|
8
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數(shù)據(jù)處理裝置在漂移中
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檢修
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|
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9
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NPD的堿源加速失效中
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檢修
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一般使用溫度高時(shí)，固定相流失會(huì)加速氣源的老化
|
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10
|
TCD熱絲元件或FPD光電倍增管在老化失效過(guò)程中
|
不能滿足要求時(shí)更換
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11
|
錯(cuò)用樣品或被污染的注射器
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核查更正
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3 正常操作中基線出現(xiàn)無(wú)規(guī)則毛刺
|
可能原因
|
排除方法
|
說(shuō)明
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1
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高靈敏度下操作
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正常
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允許程度視分析要求而定
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2
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外界環(huán)境（如電壓、振動(dòng)、電磁干擾）
|
視情況消除
|
注意連接線和電路板可能有接觸不良的地方
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|
3
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TCD熱絲元件上有異物
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吹洗或更換
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4
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TCD熱絲元件有瞬時(shí)接地現(xiàn)象
|
降低橋流或消除振動(dòng)源
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|
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5
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FID火焰偏大跳動(dòng)、氣體不純、有灰塵進(jìn)入火焰或噴嘴半堵塞
|
重新設(shè)置氣流比，更換新氣源或檢修噴嘴
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|
|
6
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FID、 FPD火焰太大
|
檢查糾正
|
重新設(shè)置氣流比
|
|
7
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電路中某些繼電器頻繁動(dòng)作
|
檢查消除
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|
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8
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離子化檢測(cè)器微電流放大器工作不穩(wěn)定
|
檢修
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|
|
9
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電源插頭接觸不良
|
重新拔插
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|
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10
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有頻繁開(kāi)關(guān)的設(shè)備共用一條電路
|
設(shè)法使儀器單獨(dú)使用一線
|
|
|
11
|
色譜柱流失物、固定相顆粒污染不定時(shí)進(jìn)入FID
|
檢查色譜柱出口堵塞物情況
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12
|
檢測(cè)器輔助氣路管內(nèi)有異物或有漏氣點(diǎn)（氣阻突然變化）
|
消除
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13
|
填充柱固定相或柱頭填充物松動(dòng)
|
消除或更換新柱
|
4 正常操作中基線上出小峰
|
可能原因
|
排除方法
|
說(shuō)明
|
|
|
1
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TCD排氣管中有冷凝物
|
消除
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|
|
2
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TCD出口接著皂膜流量計(jì)
|
拿下
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3
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FID輔助氣調(diào)節(jié)閥工作不穩(wěn)
|
檢修
|
|
|
4
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ECD排出口氣流波動(dòng)
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消除
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|
|
5
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公用電源上有大功率設(shè)備頻繁開(kāi)與關(guān)
|
儀器最好單用一路電源
|
|
|
6
|
某個(gè)控溫區(qū)在意外調(diào)整（特別是柱箱）
|
檢查消除
|
|
|
7
|
氣體發(fā)生器控制開(kāi)與關(guān)影響
|
更換較大發(fā)生量的發(fā)生器
|
|
|
8
|
樣品太臟出現(xiàn)不明組分峰
|
考慮增加樣品予處理步驟
|
|
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9
|
屬于“鬼峰”
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參見(jiàn)“鬼峰”可能出現(xiàn)原因和排除方法
|
5 基線呈波浪狀變化
|
可能原因
|
排除方法
|
說(shuō)明
|
|
|
1
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溫度控制接近恒定在不斷調(diào)整中
|
正常，允許穩(wěn)定一段時(shí)間
|
常出現(xiàn)在高靈敏度儀器開(kāi)始啟動(dòng)走基線時(shí)
|
|
2
|
濃度型檢測(cè)器恒溫箱或柱箱控溫精度差
|
檢修（檢查有關(guān)蓋門(mén)是否蓋好與關(guān)嚴(yán)）
|
易出現(xiàn)在高靈敏度操作時(shí)
|
|
3
|
使用空調(diào)或儀器放在空氣流動(dòng)較大的地方
|
消除影響因素
|
|
|
4
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鋼瓶或減壓閥失靈后在周期變化
|
檢修
|
|
|
5
|
載氣或輔助氣用調(diào)節(jié)閥在不停調(diào)節(jié)
|
檢查是供氣原因還是閥本身原因
|
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|
6
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雙氣路不能匹配補(bǔ)償
|
重新調(diào)節(jié)工作參數(shù)
|
特別出現(xiàn)在安裝了不同類型的色譜柱時(shí)
|
|
7
|
過(guò)溫保護(hù)設(shè)定的比控制的溫度低
|
重新設(shè)定
|
|
|
8
|
某控溫?zé)崦粼ㄣK電阻）有損傷
|
更換
|
6 基線突然向一個(gè)方向漂移
|
可能原因
|
排除方法
|
說(shuō)明
|
|
|
1
|
程序升溫過(guò)程
|
正常
|
一般超過(guò)150℃以后或靈敏度較高時(shí)，較明顯
|
|
2
|
溫度失控（溫度不停的升高或降低）
|
排除失控原因
|
|
|
3
|
環(huán)境溫度變化大
|
正常
|
視儀器性能，一般在高靈敏度操作時(shí)易出現(xiàn)
|
|
4
|
TCD在高橋流下操作可能永久無(wú)法走直
|
允許情況下盡量適當(dāng)調(diào)低
|
|
|
5
|
凈化器失靈或檢測(cè)器受污染過(guò)程中
|
及時(shí)檢查再生凈化器或更換
|
|
|
6
|
更換新的氣源（純度低）后檢測(cè)器在污染過(guò)程中
|
增加凈化器或更換干凈氣源
|
|
|
7
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控制閥失靈氣流在不斷變化
|
檢修
|
|
|
8
|
TCD熱絲元件在損傷過(guò)程中
|
某種情況屬正常
|
|
|
9
|
ECD基流正增加
|
正常
|
隨著氣路系統(tǒng)和檢測(cè)器不斷吹洗干凈
|
|
10
|
ECD基流下降
|
找出污染源并給以消除
|
污染可能來(lái)自氣路、色譜柱或樣品
|
|
11
|
FID無(wú)極化電壓
|
檢修
|
|
|
12
|
光電倍增管暗流不斷地變化
|
檢查供電高壓不穩(wěn)和光電倍增管是否在加速老化
|
|
|
13
|
NPD突然受污染再生過(guò)程中
|
等待
|
NPD恢復(fù)時(shí)間比FID長(zhǎng)
|
|
14
|
進(jìn)了較臟樣品后
|
增加溫度加速吹洗過(guò)程或清洗更換有關(guān)零件
|
|
|
15
|
漏氣引起極性柱加速失效
|
檢漏
|
|
|
16
|
微電流放大器零點(diǎn)發(fā)生漫漂移
|
恢復(fù)過(guò)程中或凈電計(jì)電路正在受潮被污染
|
7 程序升溫分析基線上漂或出現(xiàn)不規(guī)則峰
特別是在靈敏度要求較高時(shí)，程序升溫分析，柱流失明顯基線上漂（>150℃以后）或出現(xiàn)不規(guī)則峰實(shí)屬難免，特別是在靈敏度較高時(shí)。在實(shí)操中只能依據(jù)不同情況，盡量減小它對(duì)分析的干擾；
|
可能原因
|
排除方法
|
說(shuō)明
|
|
|
1
|
載氣純度低
|
有條件加凈化器以提高載氣純度
|
|
|
2
|
載氣流量在不斷減小
|
正常，毛細(xì)管柱分析必須用穩(wěn)壓閥調(diào)柱前壓，溫度不斷升高柱阻力增加，柱前壓不變流量減小
|
|
|
3
|
隔墊流失
|
沒(méi)有隔墊清洗氣路時(shí)，要使用耐高溫低流失注射墊
|
|
|
4
|
色譜柱
|
盡可能選用交聯(lián)（鍵合）柱并把色譜柱充分老化。允許情況下盡可能選用非極性固定相或薄液膜柱
|
|
|
5
|
氣路密封性差
|
檢漏（要求比恒溫嚴(yán)格）
|
|
|
6
|
檢測(cè)器工作狀態(tài)
|
選擇較佳工作參數(shù)可減小程序升溫對(duì)檢測(cè)器工作狀態(tài)的影響
|
|
|
7
|
進(jìn)樣器和檢測(cè)器
|
再作程序升溫分析之前，最好把進(jìn)樣器和檢測(cè)器清洗一次
|
|
|
8
|
色譜分析方法
|
從色譜柱選擇入手，盡量降低程升的升溫速率和終溫，以改善升溫中的各種不利影響
|
|
|
9
|
走空白基線
|
使用色譜數(shù)據(jù)處理工作站時(shí)，用程升基線和空白基線相差方法改善基線穩(wěn)定性，以增加檢測(cè)的靈敏渡和定性定量的精度
|
8 恒溫操作時(shí)基線出現(xiàn)不規(guī)則變化
|
可能原因
|
排除方法
|
說(shuō)明
|
|
|
1
|
儀器放置位置不當(dāng)
|
更正
|
使儀器遠(yuǎn)離熱源、風(fēng)口、空調(diào)和陽(yáng)光等
|
|
2
|
地線干擾
|
拆除已把地線接在水管或不合格的地線上
|
某些情況寧可不接地
|
|
3
|
氣路系統(tǒng)突然有較大的漏氣
|
停機(jī)重新檢漏
|
操作靈敏度高時(shí)更明顯
|
|
4
|
有關(guān)控制閥失靈
|
檢修
|
|
|
5
|
檢測(cè)器突然被污染
|
消除污染源并等待一定時(shí)間
|
來(lái)自色譜柱或輔助氣路
|
|
6
|
檢測(cè)器安裝松動(dòng)或密封性變差
|
重新安裝并檢漏
|
|
|
7
|
多次大量注射較臟樣品之后
|
長(zhǎng)時(shí)間熱吹洗檢測(cè)系統(tǒng)或處理更換受污染部件
|
進(jìn)樣器、色譜柱、檢測(cè)器都可能被污染
|
|
8
|
色譜柱長(zhǎng)期使用之后
|
定期活化和再生色譜柱
|
|
|
9
|
電源突然波動(dòng)
|
必要時(shí)加裝穩(wěn)壓電源
|
|
|
10
|
放大器故障或輸入輸出信號(hào)線接觸不良
|
檢修
|
|
|
11
|
用錯(cuò)樣品或被污染的注射器
|
更正
|
|
|
12
|
數(shù)據(jù)處理故障
|
檢修
|
9 出現(xiàn)負(fù)峰
|
可能原因
|
排除方法
|
說(shuō)明
|
|
|
1
|
數(shù)據(jù)處理輸入信號(hào)線接反
|
更正
|
|
|
2
|
TCD操作中某組分的熱傳導(dǎo)系數(shù)大于載氣熱傳導(dǎo)系數(shù)
|
正常
|
|
|
3
|
雙氣路系統(tǒng)中，進(jìn)樣搞錯(cuò)位置或選擇極性開(kāi)關(guān)沒(méi)有換相
|
更正
|
|
|
4
|
ECD操作中進(jìn)樣量太大
|
正常
|
檢測(cè)原理可能變成電離檢測(cè)器
|
|
5
|
FID選錯(cuò)極化電壓的極性
|
更正
|
|
|
6
|
FID無(wú)極化電壓
|
正常
|
出峰可能正或負(fù)并同時(shí)伴隨靈敏度低
|
|
7
|
TCD用氮做載氣，組分濃度不同時(shí)
|
調(diào)整工作參數(shù)或進(jìn)樣量可改變峰方向
|
不同濃度N2的二元（多元）混合氣的熱傳導(dǎo)系數(shù)是非線性的
|
|
8
|
FPD 和 NPD的氣流比不適宜
|
試驗(yàn)選擇較佳氣流比
|
|
|
9
|
載氣太臟或檢測(cè)器嚴(yán)重被污染時(shí)
|
更換載氣或清洗檢測(cè)器
|
|
|
10
|
操作FID使用電離效率低的溶劑
|
正常
|
如CS2
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10 圓頂峰
|
可能原因
|
排除方法
|
說(shuō)明
|
|
|
1
|
進(jìn)樣量大或檢測(cè)器線性范圍窄
|
減少進(jìn)樣量或改善檢測(cè)器線性范圍
|
超出了檢測(cè)器的線性或動(dòng)態(tài)范圍
|
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2
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載氣有大的漏氣致使流量減小
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檢漏
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3
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汽化溫度低
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適當(dāng)增加
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4
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氣體六通閥進(jìn)樣時(shí)死體積太大
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減小安裝死體積
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|
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5
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色譜柱汽化襯管沒(méi)有正確安裝
|
按要求安裝
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6
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沒(méi)有開(kāi)補(bǔ)充氣或補(bǔ)充氣流量太小
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重新設(shè)定補(bǔ)充氣
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|
7
|
進(jìn)樣量大使色譜柱過(guò)載
|
減小進(jìn)樣量或增加分流比
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8
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初始設(shè)置色譜柱溫度低或載氣流量太小
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實(shí)驗(yàn)糾正
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9
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數(shù)據(jù)處理判峰參數(shù)（半峰寬或斜率值偏大）
|
通過(guò)實(shí)驗(yàn)調(diào)整
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11 圓平頂峰
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可能原因
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排除方法
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說(shuō)明
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1
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超出了檢測(cè)器的動(dòng)態(tài)范圍
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減少了進(jìn)樣量
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優(yōu)化操作條件，擴(kuò)大了線性范圍（如ECD）
|
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2
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離子化檢測(cè)器用微電流放大器輸入飽和
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減少進(jìn)樣量或輸入量程
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如從1×10-12A/mV降到 1×10-10A/mV
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|
3
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超出了色譜數(shù)據(jù)處理允許的輸入電壓范圍或輸入極性接錯(cuò)
|
減小進(jìn)樣量或減小輸入信號(hào)
|
也可能沒(méi)有調(diào)零使工作范圍變窄
|
|
4
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進(jìn)樣量大時(shí)色譜柱過(guò)載
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減小進(jìn)樣量或增加分流比
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12 出現(xiàn)“N”或 “W”峰
|
可能原因
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排除方法
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說(shuō)明
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1
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TCD用N2作載氣，不同濃度的二元（多元）混合氣的熱傳導(dǎo)系數(shù)非線性作用所致
|
改變進(jìn)樣量或調(diào)整載氣流量等操作參數(shù)有可能消除
|
|
|
2
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TCD被嚴(yán)重污染
|
清洗檢測(cè)器
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|
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3
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進(jìn)樣量與進(jìn)樣系統(tǒng)不匹配
|
試驗(yàn)選擇合適的進(jìn)樣量
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|
|
4
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使用的樣品溶劑與進(jìn)樣溫度和載氣流量不匹配
|
試驗(yàn)選擇最佳工作參數(shù)
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|
|
5
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TCD四個(gè)臂連接錯(cuò)
|
重新連接
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|
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6
|
進(jìn)樣運(yùn)行后，沒(méi)有關(guān)閉自動(dòng)調(diào)零功能
|
按儀器說(shuō)明書(shū)操作
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|
|
7
|
ECD過(guò)載或被污染嚴(yán)重
|
減小進(jìn)樣量或清洗檢測(cè)器
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13 臺(tái)階峰
|
可能原因
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排除方法
|
說(shuō)明
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1
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TCD熱絲元件被鹵素、氧或硫等元素腐蝕
|
通H2高溫還原，無(wú)效時(shí)更換元件
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|
|
2
|
載氣流量突變（漏氣或氣路某處氣阻變化）
|
檢修
|
|
|
3
|
流量調(diào)節(jié)閥性質(zhì)差
|
檢修或更換
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|
|
4
|
用記錄儀時(shí)筆接線松動(dòng)
|
重裝
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|
|
5
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信號(hào)接觸不良
|
重新連接
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14 色譜峰忽大忽小
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可能原因
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排除方法
|
說(shuō)明
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|
1
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ECD或NPD在穩(wěn)定過(guò)程中
|
等待儀器穩(wěn)定后再進(jìn)樣
|
這兩種檢測(cè)器比其它常用檢測(cè)器穩(wěn)定時(shí)間長(zhǎng)
|
|
2
|
樣品進(jìn)樣歧視或分流歧視大
|
核查進(jìn)樣技術(shù)和參數(shù)設(shè)計(jì)是否合理
|
|
|
3
|
溫度、柱前壓、流量等有異常
|
檢查分析參數(shù)并仔細(xì)檢漏
|
注意不同靈敏度要求相差甚大
|
|
4
|
不分流進(jìn)樣打開(kāi)分流閥的時(shí)間不合適或不準(zhǔn)確
|
重新實(shí)驗(yàn)確定
|
|
|
5
|
色譜柱被污染或產(chǎn)生了活性
|
截取柱頭一段或清洗更換柱
|
分析活性樣品時(shí)特別注意
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|
6
|
進(jìn)樣汽化襯管被污染，活性組分被吸附或分解
|
清洗襯管、更換玻璃棉或襯管
|
同時(shí)檢查襯管密封性
|
|
7
|
進(jìn)樣時(shí)出現(xiàn)樣品蒸汽倒灌
|
減少進(jìn)樣量、更換大容積襯管或適當(dāng)降低汽化溫度
|
也可以提高進(jìn)樣時(shí)的柱前壓
|
|
8
|
樣品本身濃度變化
|
核查驗(yàn)證樣品
|
可能蒸發(fā)、分解或樣品預(yù)處理不當(dāng)
|
|
9
|
進(jìn)樣量不重復(fù)
|
注射針檢漏或更換新注射針
|
沒(méi)有掌握進(jìn)樣技術(shù)和技巧
|
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10
|
檢測(cè)器在非線性段工作
|
減少進(jìn)樣量或降低儀器輸入量程
|
首先知道用檢測(cè)器允許的最大進(jìn)樣量
|
|
11
|
FID、NPD的電場(chǎng)偏低或不穩(wěn)定
|
調(diào)高極化電壓或檢修電源
|
|
|
12
|
存在共流出組分峰
|
提高柱效把有關(guān)組分分開(kāi)
|
15 “鬼峰”（怪峰、多余峰、記憶峰）
① “鬼峰”的寬度（保留時(shí)間）和樣品峰接近，污染物可能和樣品同時(shí)進(jìn)入色譜柱，污染物可能源于進(jìn)樣器或樣品本身被污染（注射器、溶劑、樣品瓶或瓶蓋等），可用進(jìn)僅有溶劑的空白樣品排除污染源；
② 鬼峰的峰寬比樣品峰大得多，污染物可能再進(jìn)樣之前已存在色譜柱中，或者說(shuō)污染物在上一次分析結(jié)束時(shí)，已存在色譜柱中，在下一次分析時(shí)流出。因峰很寬，有可能是由多次進(jìn)樣累積而成的，在此情況下峰一般峰呈現(xiàn)饅頭形，且常常隨著基線的漂移而出現(xiàn)。
|
可能原因
|
排除方法
|
說(shuō)明
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|
|
1
|
載氣純度低，凈化器失效固定相與載氣污染物發(fā)生反應(yīng)
|
更換載氣或活化凈化器
|
|
|
2
|
注射墊在溫度高時(shí)分解流失
|
采用耐高溫墊或適當(dāng)降低進(jìn)樣口溫度
|
事前對(duì)隔墊進(jìn)行老化處理或打開(kāi)墊清洗氣路
|
|
3
|
上一次進(jìn)樣中的高沸點(diǎn)雜質(zhì)的自然流出
|
有必要進(jìn)一步進(jìn)行樣品預(yù)處理
|
|
|
4
|
襯管、柱頭沉積了高沸點(diǎn)污染物，程序升溫時(shí)流出
|
提高樣品純度清洗被污染部分
|
在程序升溫時(shí)增加終溫溫度或時(shí)間，是減小或消除上述鬼峰的有效方法；也可以每天或定時(shí)設(shè)置溫度程序進(jìn)行儀器烘烤，可有效地把保留性強(qiáng)的物質(zhì)趕出進(jìn)樣口和色譜柱；
③ 汽化溫度過(guò)高，樣品組分可能分解，每次降低20℃進(jìn)樣,觀察出峰情況,確定合適溫度；
④ 樣品在汽化襯管中停留太久，加大載氣或增加分流比；
⑤ 樣品在襯管中有吸附或分解，選用去活襯管或襯管失活需再處理；
⑥ 襯管中填充玻璃棉有活性或失活或填充玻璃棉不適合某些樣品分析，選用無(wú)填充物襯管或再去活處理；
⑦ 樣品本身有組分不穩(wěn)定，考慮增加預(yù)處理樣品程序；
⑧ 產(chǎn)生“鬼峰”的次要原因：
|
可能原因
|
排除方法
|
說(shuō)明
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|
|
1
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襯管密封件被污染，材料欠佳有流失
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更換新的高質(zhì)量襯管密封件
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|
|
2
|
柱頭堵塞的玻璃棉有活性
|
更換新的無(wú)活性玻璃棉
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|
|
3
|
氣路系統(tǒng)漏氣
|
檢漏
|
尤其進(jìn)樣器和檢測(cè)器兩處影響較大
|
|
4
|
控溫或放大器電源波動(dòng)
|
儀器電源不穩(wěn)
|
|
|
5
|
樣品中有空氣（氧）
|
消除
|
|
|
6
|
樣品中存在交叉污染，用錯(cuò)注射針或樣品等
|
核查并消除
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16 出峰后基線下移
|
可能原因
|
排除方法
|
說(shuō)明
|
|
|
1
|
色譜柱被污染
|
再生、清洗或更換色譜柱
|
|
|
2
|
檢測(cè)器被污染
|
清洗檢測(cè)器
|
|
|
3
|
進(jìn)樣量大改變了工作狀態(tài)
|
重復(fù)進(jìn)樣多次可能變好
|
當(dāng)系統(tǒng)被污染，進(jìn)大量溶劑減小了污染程度
|
|
4
|
流量變化（漏氣或氣阻發(fā)生變化）
|
維修
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|
|
5
|
FID噴嘴半堵塞
|
消除
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|
|
6
|
NPD堿源被污染
|
再生堿源或更換
|
|
|
7
|
FID、 FPD、 NPD氣流比離較佳狀態(tài)太大
|
重新調(diào)整
|
|
|
8
|
有些樣品組分和固定相發(fā)生了反應(yīng)
|
更換不同性能的色譜柱
|
|
|
9
|
FID火焰熄滅
|
重新點(diǎn)燃
|
17 峰拖尾
① 在氣相色譜分析中引起峰托尾的原因包括以下幾種：
a. 汽化室的結(jié)構(gòu)不合理；
b. 柱溫或汽化室溫度設(shè)置不合理；
c. 進(jìn)樣量和進(jìn)樣器結(jié)構(gòu)不匹配偏大；
d. 進(jìn)樣技術(shù)欠佳；
e. 由于：固定液和擔(dān)體之間的邊界、金屬柱壁、柱兩端的連接管壁等的表面對(duì)溶質(zhì)分子的非線性吸附，特別是極性溶質(zhì)，在非極性柱上分離時(shí)。
不難看出第五點(diǎn)在色譜分析日常工作中應(yīng)引起注意的，為了防止峰拖尾可考慮采取以下措施：對(duì)色譜柱內(nèi)壁進(jìn)行脫活處理；色譜柱進(jìn)出口連接，盡量實(shí)現(xiàn)玻璃化并進(jìn)行硅烷化處理，若使用金屬連接管可進(jìn)行去活處理；色譜柱固定相兩端柱塞用玻璃棉要硅烷化處理或改用石英棉取代。
② 由于峰拖尾情況不同，首先確定是全部峰拖尾還是活性樣品峰拖尾，視不同情況尋出具體原因。
a. 所有峰都拖尾：
|
可能原因
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排除方法
|
說(shuō)明
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|
|
1
|
色譜柱安裝不正確
|
重新安裝色譜柱
|
|
|
2
|
分流比太小
|
適當(dāng)調(diào)大分流比
|
|
|
3
|
汽化襯管被污染（內(nèi)有注射墊碎屑或其他固體顆粒）
|
清洗汽化襯管或更換
|
|
|
4
|
色譜柱被嚴(yán)重污染，可能存在固體顆粒污染物與樣品作用
|
清洗再生或更換色譜柱
|
|
|
5
|
進(jìn)樣量大
|
減少進(jìn)樣量或稀釋樣品
|
|
|
6
|
注射墊處漏氣
|
檢漏或更換注射墊
|
|
|
7
|
補(bǔ)充氣未開(kāi)或偏低
|
打開(kāi)補(bǔ)充氣按說(shuō)明書(shū)調(diào)整
|
|
|
8
|
色譜柱使用溫度偏低或接近失效
|
提高色譜柱溫度或更換色譜柱
|
|
|
9
|
FID無(wú)極化電壓（或偏低）
|
檢修極化電源
|
此時(shí)伴隨有靈敏度偏低現(xiàn)象
|
|
10
|
進(jìn)樣技術(shù)欠佳
|
改進(jìn)
|
速度不合適
|
b. 活性樣品組分拖尾（隨保留時(shí)間增加拖尾加�。�
|
可能原因
|
排除方法
|
說(shuō)明
|
|
|
1
|
使用了活性大的汽化襯管或色譜柱
|
去活處理或更換
|
|
|
2
|
襯管或色譜柱去活處理失效
|
重新把襯管或色譜柱去活處理
|
|
|
3
|
襯管或色譜柱被污染，樣品與污染物發(fā)生作用
|
清洗或更換襯管，再生或更換色譜柱
|
|
|
4
|
用錯(cuò)了汽化襯管和管中填充物
|
從新選用或改變襯管中的填充物
|
c. 保留時(shí)間短的峰拖尾
|
可能原因
|
排除方法
|
說(shuō)明
|
|
|
1
|
可能產(chǎn)生溶劑效應(yīng)
|
改變分析參數(shù)或重選溶劑
|
|
|
2
|
色譜柱頭安裝不合理（死體積大）
|
重新安裝色譜柱
|
|
|
3
|
注射隔墊漏氣
|
重新漏氣或更換隔墊
|
|
|
4
|
進(jìn)樣速度偏慢或欠佳
|
加快進(jìn)樣速度或改善進(jìn)樣技術(shù)
|
d. 保留時(shí)間長(zhǎng)的峰拖尾
|
可能原因
|
排除方法
|
說(shuō)明
|
|
|
1
|
汽化溫度偏低
|
升高汽化溫度
|
|
|
2
|
色譜柱存在污染物；
|
再生或清洗色譜柱
|
|
|
3
|
色譜柱兩端連接區(qū)域存在冷卻區(qū)域
|
檢查消除
|
e. 其他原因
|
可能原因
|
排除方法
|
說(shuō)明
|
|
|
1
|
峰前陡峰而后拖尾峰，通常意味著非線性等溫分配
|
色譜柱（固定相）和樣品不匹配，需要更換不同極性的色譜柱；
|
|
|
2
|
氣-固色譜柱過(guò)載或使用程序升溫技術(shù)
|
正常
|
|
|
3
|
個(gè)別峰拖尾可能和鬼峰共同流出
|
消除鬼峰或增加分離度
|
|
|
4
|
配有催化反應(yīng)器時(shí)，催化劑接近失效
|
有必要更換催化劑
|
|
|
5
|
樣品化合物性質(zhì)不適合直接進(jìn)樣
|
應(yīng)考慮樣品前處理
|
18 峰裂分( 單組分出現(xiàn)雙峰)
① 所有峰裂分
|
可能原因
|
排除方法
|
說(shuō)明
|
|
|
1
|
色譜柱安裝錯(cuò)誤或柱頭進(jìn)樣時(shí)，樣品未注射到柱頭內(nèi)
|
重新安裝色譜柱，確保樣品注射到柱頭
|
|
|
2
|
注射針有記憶（即樣品在針中有部分殘留）
|
清洗注射針或更換新注射針
|
|
|
3
|
溶劑與樣品不匹配或使用混合溶劑；
|
極性樣品用極性溶劑且沸點(diǎn)相差不宜太大調(diào)整使用的溶劑
|
|
|
4
|
汽化溫度偏低
|
升高汽化溫度
|
|
|
5
|
程序升溫操作時(shí)色譜柱初始溫度選擇不合適
|
重新選擇色譜柱初始溫度
|
|
|
6
|
進(jìn)樣時(shí)推進(jìn)方法不對(duì)
|
改善進(jìn)樣時(shí)的推進(jìn)方法
|
② 部分峰裂分
|
可能原因
|
排除方法
|
說(shuō)明
|
|
|
1
|
有的樣品組分在汽化襯管中分解
|
降低汽化溫度或改用柱頭進(jìn)樣；
|
也不能太低，否則峰展寬或拖尾
|
|
2
|
樣品和溶劑不匹配或使用了混合溶劑
|
重新選擇溶劑
|
|
|
3
|
進(jìn)樣技術(shù)差峰裂分
|
改進(jìn)進(jìn)樣技術(shù)
|
峰裂分表現(xiàn)為隨保留時(shí)間增加而減弱
|
③ 其他原因
|
可能原因
|
排除方法
|
說(shuō)明
|
|
|
1
|
汽化襯 汽化襯管安裝死體積大
|
重新安裝汽化襯管
|
|
|
2
|
襯管溶積小進(jìn)樣量大出現(xiàn)蒸汽倒罐
|
減小進(jìn)樣量或重新選汽化襯管
|
|
|
3
|
檢測(cè)器過(guò)載
|
減小進(jìn)樣量或放大器量程
|
超出了響應(yīng)范圍
|
|
4
|
柱溫嚴(yán)重波動(dòng)
|
檢修
|
19 前沿峰(舌頭峰)
雖然氣相色譜儀汽化室設(shè)計(jì)不合理也是一種出現(xiàn)“前沿峰”的主要原因。但在日常操作中“前沿峰”的主要原因還還可能有以下兩種：
① 進(jìn)樣量太大引起色譜柱過(guò)載，通常認(rèn)為：當(dāng)樣品在固定相濃度增加速率高于它在氣相濃度的增加速率，會(huì)使吸附等控溫線為凹形時(shí)，在色譜圖上會(huì)產(chǎn)生伸舌頭峰。減小進(jìn)樣量上述情況便可消除，但對(duì)于低負(fù)載填充柱，減少進(jìn)樣量仍出現(xiàn)不對(duì)稱峰時(shí)，用稀溶液形式進(jìn)樣可以克服柱過(guò)載問(wèn)題；
② 樣品中某些高沸點(diǎn)組分沒(méi)有迅速氣化也是產(chǎn)生伸舌頭峰的一種原因。理論上講注入樣品后在有限的時(shí)間內(nèi)各組分應(yīng)瞬間汽化，當(dāng)樣品沸點(diǎn)范圍較寬時(shí)，后出峰并非完全如此，這時(shí)在色譜圖上就出現(xiàn)前沿峰，增加汽化溫度，提高汽化速率是一般的解決辦法，但過(guò)高的汽化溫度可能產(chǎn)生兩個(gè)問(wèn)題：
（1） 遇到不穩(wěn)定化合物會(huì)造成熱分解現(xiàn)象，會(huì)在色譜圖上出現(xiàn)迅速溶出的“鬼峰”；
（2） 特別是采用柱頭進(jìn)樣時(shí)，過(guò)高的氣化溫度，會(huì)使固定液過(guò)度流失，而產(chǎn)生一個(gè)具有催化反應(yīng)的表面，因此采用約1%的稀溶液效果更好。
③ 前沿峰的程度不同引起原因不同，除上述原因外，也可以通過(guò)實(shí)驗(yàn)來(lái)確定排除。
|
可能原因
|
排除方法
|
說(shuō)明
|
|
|
1
|
色譜柱安裝不合格
|
重新安裝色譜柱
|
|
|
2
|
汽化溫度偏低
|
適當(dāng)調(diào)高汽化溫度
|
|
|
3
|
柱外效應(yīng)大
|
增加載氣流量或重新安裝色譜柱
|
|
|
4
|
汽化襯管被污染對(duì)樣品產(chǎn)生吸附作用
|
清洗或更換汽化襯管
|
|
|
5
|
色譜柱被污染或使用溫度低
|
適當(dāng)增加柱溫或再生色譜柱
|
|
|
6
|
峰前出現(xiàn)了鬼峰
|
消除鬼峰或增加分離度
|
|
|
7
|
懷疑進(jìn)樣量大
|
稀釋樣品10倍、選用厚液膜同類色譜柱、減小進(jìn)樣量或增加分流比等
|
|
|
8
|
有共流出峰
|
試用不同的極性或有選擇性的色譜柱，判斷有無(wú)其共流出峰
|
|
|
9
|
進(jìn)樣速度偏慢使早出峰出現(xiàn)前延
|
加快進(jìn)樣速度
|
20 峰分離度變差
|
可能原因
|
排除方法
|
說(shuō)明
|
|
|
1
|
色譜柱重新安裝的不合格
|
按說(shuō)明書(shū)要求尺寸安裝
|
|
|
2
|
更換了不純氣源或凈化器污物流失
|
更換純度高的氣源或加深凈化作用，再生凈化器
|
|
|
3
|
色譜柱被污染
|
定時(shí)清洗或再生
|
|
|
4
|
色譜柱固定液流失或分解致使柱效下降
|
更換新柱
|
|
|
5
|
誤調(diào)整了分析條件（載氣、流速、柱溫度等）
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重新確定最佳分離條件
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色譜分析方法允許微細(xì)調(diào)整
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6
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樣品濃度變化太大而進(jìn)樣量不變
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減小進(jìn)樣量，有必要稀釋樣品
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7
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進(jìn)樣量太大色譜柱過(guò)載
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減少進(jìn)樣量
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8
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進(jìn)樣系統(tǒng)被污染
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清洗進(jìn)樣系統(tǒng)
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9
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檢測(cè)器工作狀態(tài)，ECD漏氣或FID氣流欠佳
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盡量使檢測(cè)器工作在最佳狀態(tài)附近
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10
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數(shù)據(jù)處理機(jī)或工作站判斷軟性能差或參數(shù)設(shè)置欠佳
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重新調(diào)整判峰參數(shù)或更換一臺(tái)性能較佳數(shù)據(jù)處理機(jī)
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11
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進(jìn)樣技術(shù)欠佳
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不斷改進(jìn)
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21 帶毛刺的峰
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可能原因
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排除方法
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說(shuō)明
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1
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儀器沒(méi)有穩(wěn)定下來(lái)，噪聲大于要求
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等待一段時(shí)間
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2
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FID極化電壓不穩(wěn)定
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檢修
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3
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環(huán)境因素干擾
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實(shí)驗(yàn)消除
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4
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儀器穩(wěn)定性變差
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檢修
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參見(jiàn)噪聲大的原因和排除
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5
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信號(hào)線或電路板接觸不良
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檢修
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6
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儀器用錯(cuò)量程和衰減
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更正
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7
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數(shù)據(jù)處理機(jī)或工作站判峰（半峰寬和斜率）設(shè)置大小
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重新設(shè)置判峰參數(shù)
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8
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數(shù)據(jù)處理機(jī)或工作站本身基線不穩(wěn)定
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檢修
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22 色譜數(shù)據(jù)處理工作站觀察到矩形峰
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可能原因
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排除方法
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說(shuō)明
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1
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儀器輸出負(fù)極性信號(hào)工作站不能處理
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調(diào)節(jié)儀器使其輸出正信號(hào)
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2
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零點(diǎn)偏高沒(méi)有校正
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工作站調(diào)零
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3
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工作站量程設(shè)置太大無(wú)法判斷基線位置和情況
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減小量程觀察
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4
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輸入信號(hào)極性和工作站本身零點(diǎn)不匹配
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改變極性重新調(diào)零
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以上22種情況，即為今天我們總結(jié)的氣相色譜儀常見(jiàn)的基線異�，F(xiàn)象，希望對(duì)小伙伴們使用氣相色譜儀的過(guò)程遇到的困難有所幫助。
