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      食品伙伴網(wǎng)服務(wù)號

      ICP-MS使用過程中常見的70個(gè)問題解答!都是經(jīng)驗(yàn)的結(jié)晶!

      放大字體  縮小字體 發(fā)布日期:2024-07-29
      核心提示: 一、比如檢測完高濃度的Al中的雜質(zhì)元素后,在做其它種類樣品中的AL元素,除了更換炬管外,霧化器是否需更換?另外清洗時(shí)
       一、比如檢測完高濃度的Al中的雜質(zhì)元素后,在做其它種類樣品中的AL元素,除了更換炬管外,霧化器是否需更換?另外清洗時(shí)間大概要多久?有無其它辦法?
      那具體要看你的高純度AL是怎么做的了,如果基體很高,那么記憶效應(yīng)就很強(qiáng)烈,炬管,霧化器,都要換,離子透鏡什么的可能也要洗洗,清洗時(shí)間和你的儀器有關(guān)系,交叉的比同心的洗的時(shí)間要更長。


      二、AMU表示峰寬和峰寬有關(guān),可它是峰寬的單位嗎?中文是什么?

      峰寬的單位是原子質(zhì)量單位。


      三、請問在使用ICP-MS做元素分析時(shí),內(nèi)標(biāo)元素的濃度如何確定。一個(gè)樣品中某元素要求定量分析,我們先做了一個(gè)全掃描的定量分析,發(fā)現(xiàn)樣品中要求分析的元素含量很高,比如1000ppm,此時(shí)我們做定量分析時(shí)內(nèi)標(biāo)用10ppb這樣低的濃度可以嗎?

      1. 濃度應(yīng)該沒有硬性規(guī)定吧,但是不能太小,如果濃度太小,本身儀器的本底以及其他元素的干擾就會明顯。這樣在校準(zhǔn)別的數(shù)據(jù)就不準(zhǔn)確了。



      2. 內(nèi)標(biāo)主要用來校正儀器的漂移。如果其它元素對內(nèi)標(biāo)基本上沒有同質(zhì)量的干擾,我想濃度差一些沒什么問題。



      其次,ICP-MS做痕量分析用,測量的元素濃度是有限度的,PPM級以上用其它儀器能更方便的測定。



      3. 我們實(shí)驗(yàn)室配制的多元素標(biāo)準(zhǔn)液為1ppb, 添加之內(nèi)標(biāo)濃度為0.5ppb。



      若待測物濃度太高可先將待測物稀釋至適當(dāng)濃度再添加內(nèi)標(biāo)進(jìn)行分析, 但如果稀釋倍數(shù)太高, 似乎添加內(nèi)標(biāo)就無意義。



      4. 儀器檢測的試樣濃度是有限制的,太高了需要稀釋。內(nèi)標(biāo)我做是比檢測限大,比推薦值小,只要沒有什么明顯的干擾就用了。



      5. 加內(nèi)標(biāo)的濃度由儀器的內(nèi)標(biāo)讀數(shù)的精密度決定。


      四、請問ICP-MS選擇是以質(zhì)量數(shù)接近較好呢,還是以電離能接近較好?或者以其它做為選擇依據(jù)?我用Sc做內(nèi)標(biāo),發(fā)現(xiàn)在食品基體中,Sc的計(jì)數(shù)變化非常大,是否有多原子干擾?

      1. 應(yīng)該選擇質(zhì)量數(shù)接近的吧。



      2. 內(nèi)標(biāo)主要是為了檢測信號隨試驗(yàn)條件的變化而加入的。SC的計(jì)數(shù)變化大說明試驗(yàn)條件不一樣了,45質(zhì)量數(shù)的干擾有12C16O21H+, 28Si16O1H+, 29Si16O+, 14N216O1H+, 13C16O2+ pe的數(shù)據(jù),應(yīng)該還是選擇質(zhì)量數(shù)接近的元素。


      五、我們用的是熱電的ICP/MS,可是最近鈾信號穩(wěn)定性總是調(diào)不到2%以下,以前我們調(diào)節(jié)信號時(shí),是Be比較難調(diào),現(xiàn)在Be挺好,可是鈾又不好了,請問各位高手,這是什么原因呢?是否信號穩(wěn)定性不在2%以下就不可以做實(shí)驗(yàn)?zāi)?#63;

      我們調(diào)信號時(shí)一般不看Be, 如果Co,In,U的精密度小于3%就很好了, 此時(shí)Be一般都還可以, 因?yàn)樵谡{(diào)最佳化是顯示的是瞬時(shí)信號, 如果能小于3%, 那么你分析時(shí)的RSD肯定能夠小于1%。


      六、有誰知道做校準(zhǔn)曲線時(shí),對force through一項(xiàng),分別在什么情況下選用blank、origin、none?

      1. 要看具體直線的特點(diǎn)了,首先,如果標(biāo)準(zhǔn)的配制沒問題,空白較好,那么選擇哪種方式都不重要了。



      如果空白較大,那么肯定要through blank,等同于扣除空白。



      由于標(biāo)準(zhǔn)配置不好,或者不準(zhǔn)確。



      有時(shí)候選擇through origin,主要的原因是通過其它點(diǎn)擬和的直線焦距是負(fù)的或者正的很大,空白又沒那么大,很可能是標(biāo)準(zhǔn)中的一部分濃度不準(zhǔn)確,因此可以強(qiáng)制通過零點(diǎn),減少誤差,使測量結(jié)果更可信一些。



      2. 如果標(biāo)準(zhǔn)溶液配置的準(zhǔn)確,那么扣除空白后的直線肯定通過零點(diǎn),實(shí)際曲線中,往往是濃度越低,曲線上的點(diǎn)可信度越差,我得感覺是當(dāng)線性不好的時(shí)候,可以選擇通過原點(diǎn),這樣曲線會有所改善,修正低濃度數(shù)據(jù)點(diǎn)的不良影響。


      七、儀器里有汞燈的是怎么用的,有什么作用?
      校正波長用的。


      八、想請教一下在Operate狀態(tài)下由于氬氣用盡而熄火,氣路不漏氣,炬管也是好的,但是重新點(diǎn)火時(shí),總是氣路通幾秒鐘后儀器就會自動關(guān)閉氣路,GAS MODULE 試了幾次還是這樣,該怎么辦?
      試一下下面的方法:
      1.退出軟件, 關(guān)閉計(jì)算機(jī);
      2.打開氬氣, 調(diào)分壓到0.6MPa;
      3.重新打開計(jì)算機(jī), 進(jìn)入軟件, 一般可以正常(主要是錯誤信號沒有消除)。
      如果還不行, 盡快跟儀器廠家聯(lián)系, 以免耽誤工作。


      九、ICP-MS比較快的前處理方法,環(huán)境樣品?
      1. 采用微波爐消解。
      2. 高壓微波消解系統(tǒng),MILLSTONE或CEM等。
      3. 微波消解或酸浸取.視樣品和元素而定.如果作同位素豐度,用浸取就夠了。
      4. 看什么環(huán)境樣品了,水樣用酸固定就可以了,土壤是比較 難做的,不過微波消解也可以,按照你做的元素不同有不同的速度和方法呀。


      十、ICP-MS在開機(jī)后真空上不去,真空顯示為ERROR,檢查了分子泵和真空泵都沒有問題的,不知道是什么原因?
      1. 顯示是error,那一定應(yīng)該是控制和通訊的問題吧。
      2. 檢查一下循環(huán)水是否打開, 流量和水壓是否正確, 一般的分子泵都帶有水流連鎖保護(hù)功能, 我們的儀器如果不開水循環(huán), 真空就不能抽上去,因?yàn)榉肿颖貌粏印?br /> 3. 如果是熱電的X7系列通訊出了問題,你可以點(diǎn)擊windows任務(wù)欄下一個(gè)齒輪圖標(biāo),找到連接那,先斷開再連接,或是重啟機(jī)子。
      4. 溫差有沒有設(shè)定好呢,環(huán)境的溫度也有關(guān)系哦。
      5. 也有可能是泵的問題。


      十一、最近我用的ELAN6000 ICP-MS本底很高,PB有10ppb的計(jì)數(shù),Ni也很高。已經(jīng)換了進(jìn)樣錐了,炬管也拆下洗過,霧化室也沖過,可計(jì)數(shù)就是下不來。進(jìn)樣的時(shí)侯高,不進(jìn)樣會低下來,應(yīng)該不是氣的干擾吧。進(jìn)樣的水應(yīng)該沒問題。
      1. 建議重新優(yōu)化儀器。
      2. 檢查一下儀器的分辨率,一般10%峰高處的寬度應(yīng)為0.75 AMU 左右, 如果太寬有可能是干擾, 另外檢查MASS 220 處的背景, 這個(gè)地方應(yīng)該是儀器背景, 如果高于10 CPS, 估計(jì)是電子系統(tǒng)的噪音,我用的是熱電的PQ系列, 可能有所不同, 供參考。



      3. 大概還是霧化器沒洗干凈。


      十二、樣品測量類型下面有blank ; Fully quant standard;instrument setup;unkown;QC sample ; addition standard;zero addition standard;幾個(gè)類型,我平常只用 blank ; Fully quant standard;unkown三個(gè)類型的。問;其他幾個(gè)類型都是在檢測什么的時(shí)候才使用的?注:所用儀器是element X系列的。
      空白
      Fully quant standard;
      常規(guī)地定量分析標(biāo)準(zhǔn);
      instrument setup;
      校準(zhǔn)儀器時(shí)使用;
      unkown;
      未知待測樣品;
      QC sample ;
      質(zhì)控樣品,分析中穿插測量;
      addition standard;
      標(biāo)準(zhǔn)加入樣品;
      zero addition standard;
      零標(biāo)準(zhǔn)加入樣品。


      十三、質(zhì)譜數(shù)據(jù)處理峰高法和峰面積法有什么區(qū)別?兩種方法各適用于哪類分析?
      對于我用的熱電x-7這臺儀器,有兩種不同的測量方法:
      跳峰:從一個(gè)質(zhì)樸峰的峰尖直接跳到另外一個(gè)峰尖測量,每個(gè)峰尖只取少量的點(diǎn)進(jìn)行測量。測量結(jié)果為幾點(diǎn)峰值的平均數(shù)(cps)
      跳峰方式用于元素含量定量測量。
      掃描:在設(shè)定區(qū)域內(nèi)固定間隔,每個(gè)點(diǎn)計(jì)數(shù),最后可以計(jì)算出每個(gè)峰所有點(diǎn)平均值(cps),等同于峰面積(因?yàn)榉鍖捯恢?。
      掃描方式用于定性分析較多(對樣品不了解),靈敏度差。


      十四、炬管用多久應(yīng)該更換?炬管與錐有什么關(guān)系?
      1. 正常情況下,一年應(yīng)該沒問題的,不過你得時(shí)常注意你的錐哦!
      2. 錐孔處很容易積鹽份的,時(shí)間一長影響分析的穩(wěn)定性和儀器的靈敏度。


      十五、請問怎樣降低ICP-MS霧化器流速而又對其靈敏度影響較小?怎樣減小其背景值?
      1. 可以更換的流量的霧化器。
      2. 霧化器流速受控于蠕動泵轉(zhuǎn)速,你可以降低蠕動泵的轉(zhuǎn)速試試。
      3. 霧化效率對靈敏度有很大影響,但霧化器流速對靈敏度影響不大。
      4. 背景值與儀器的噪音、實(shí)驗(yàn)用去離子水以及離子檢測器靈敏度有關(guān)。想降低背景值,主要還是用合格的去離子水比較有效。經(jīng)常合理清洗進(jìn)樣管道,即開機(jī)和關(guān)機(jī)時(shí)用去離子水清洗好再關(guān)機(jī)和實(shí)驗(yàn)。盡量要避免過高濃度的樣品進(jìn)入,這樣會給儀器造成不必要的污染、降低檢測器的壽命。
      5. 選擇低流量高效霧化器可以在減少進(jìn)樣量的情況下不影響靈敏度。背景值與儀器的離子光學(xué)系統(tǒng)及四極桿、檢測器還有信號處理有關(guān),背景值與空白值不是同一個(gè)概念。
      6. 不妨加酒精試試。ICP-AES好用。
      7. 調(diào)節(jié)蠕動泵。


      十六、什么是ICP-MS?
      1. ICP-MS是電感耦合等離子體-質(zhì)譜的意思。
      2. ICP-MS其英文全稱是:inductively coupled plasma-mass spectrometry 。


      十七、ICP-MS基體問題是怎么一回事呢?
      1. 基體干擾主要是樣品中某些不像測量的元素對測量結(jié)果的影響。
      常見的比如,同樣質(zhì)量數(shù)的不同元素對測量結(jié)果的影響,測量溶液中的其他集體成分對被檢測離子強(qiáng)度的抑制等。
      2. 大白話:基體就是分析鋁中雜質(zhì),此時(shí)鋁就是基體。


      十八、內(nèi)標(biāo)的作用?
      用來校正響應(yīng)信號的變化包括基體效應(yīng)和儀器的漂移.基體效應(yīng)又包括傳輸效應(yīng)霧化效應(yīng)電離效應(yīng)和空間的電荷效應(yīng)。


      十九、ICP-MS的分類?
      總結(jié)了一下,目前市面上成熟的ICP-MS主要有以下幾類:
      1、四級桿作為質(zhì)量分辨器的ICP-MS等。
      2、以四級桿和磁場的高分辨ICP-MS。
      3、多接受ICP-MS,主要用于地質(zhì)和核工業(yè)應(yīng)用,測量同位素之間的精確比值。
      4、以其他方式作為質(zhì)量分辨器的ICP-MS。


      二十、什么是內(nèi)標(biāo)校正法?
      用一個(gè)元素作為參考點(diǎn)對另外一個(gè)元素進(jìn)行校準(zhǔn)或校正的方法叫內(nèi)標(biāo)校正法。
      可用于以下目的:
      1監(jiān)測和校正信號的短期漂移
      2監(jiān)測和校正信號的長期漂移
      3對第二元素進(jìn)行校正
      4校正一般的基體效應(yīng)


      二十一、為何在熄火時(shí)分子泵有時(shí)會停,是否因?yàn)锳r氣的壓力過大造成的?
      1. 我想可能是儀器自動保護(hù)控制的吧
      2. 正常熄火時(shí)不應(yīng)該停 從analysis 到 stand by 機(jī)械泵和渦輪泵是不會停的
      3. 真空系統(tǒng)需要維護(hù)了
      4. 可能是滑動閥關(guān)閉時(shí)動作太慢而引起的, 或是哪里漏氣, 我們曾經(jīng)出現(xiàn)過, 在廠家工程師電話指導(dǎo)下自己弄好了
      5. 應(yīng)該清洗真空錐了


      二十二、激光燒蝕ICP-MS做表面分析。哪位大蝦用過,指點(diǎn)一下?
      ICP-MS采用時(shí)間分辨分析模式,有與樣品基體匹配的標(biāo)樣就可以做。


      二十三、ICP-MS中談到的Plasmalok™專利技術(shù),消除錐口二次電弧放電是怎么做事?
      在李冰老師翻譯的<<等離子體質(zhì)譜手冊>>中有介紹, 一般的ICP-MS的ICP的RF的工作線圈是靠近錐的一端是接地的,另一端是大功率的RF,而Plasmalok是工作線圈的中間接地,兩頭一邊是+RF,另一邊是-RF, 它的好處是等離子體電位比較低,但是也有缺點(diǎn),那就是由于線圈靠近錐的部分仍有高壓,而錐是接地的,因而兩者之間容易引起放電,我見過PE的用戶的線圈,靠近錐的一端是黑的,另一端是紫銅的顏色,現(xiàn)在熱電和Agilent在工作線圈和炬管之間加了一個(gè)金屬屏蔽圈,并且使其接地,也是為了降低等離子體電位,并且不會引起放電,我們的儀器就是這種方式。





      二十四、是否可以用來分析鉬原礦及尾礦中鉬的含量?
      1. 不可以,因?yàn)殂f太高了。
      2. 不可以,因質(zhì)譜儀器適合測量痕量組分,高含量可使霧化及四極桿等整個(gè)系統(tǒng)污染,造成測量空白太高,以后無法使用。

      3. 過分地稀釋也可以測量,但無法滿足測試質(zhì)量要求的需要。


      二十五、我用的是ICP-IES做土壤中金屬的含量。預(yù)處理我是用熱電的微波消解儀,我先是把土壤風(fēng)干,然后用磨成粉,再過篩,最后大約稱取0.2g左右,消解后無固體,但是檢測結(jié)果兩個(gè)平行樣很差,相對偏差有時(shí)候有200%。
      1. 如果所有的元素含量都不好那說明是制樣或消解過程有問題,如果個(gè)別的如鐵的可能是污染引起的
      2. 可能是樣品不均勻
      3. 我做過,用100目的土壤稱取0.25XXg,微波消解平行性非常好.但不同的批次之間有差別,要很仔細(xì)才能做到重現(xiàn)性很好
      4. 微波消解很可能不平行,不知道具體那些元素不好,是全部偏離還是部分偏離。


      二十六、我用ICP-MS測食品樣品效果不好,怎樣才能很好的應(yīng)用?測食品樣品中砷、鉛、隔、銅、硒等,他們之間有互相干擾么?
      1. 砷\硒要用CCT(或DRC)吧?另外樣品制備也比較講究。
      2. 你的標(biāo)準(zhǔn)曲線如何(r值)?如果樣品中Cu的含量比較高,你可以考慮Cu65測量.As應(yīng)該考慮ArCl75的干擾,最好用CCT(或DRC).另外在樣品消化過程中Se容易跑。
      3. As75要注意ArCl的干擾,如果CL很高的話用數(shù)學(xué)校正發(fā)比較困難。
      4. Se82靈敏度較低, As75有干擾, 7500a沒有碰撞反應(yīng)池,這倆元素不好測,你們有原子熒光嗎? 用它測這倆元素估計(jì)更好些,其他元素應(yīng)該沒問題。
      5. 樣品處理時(shí)用微波消解器,硝酸加過氧化氫,高壓下消解.Se和As最好用氫化物發(fā)生器進(jìn)樣-ICPAES或AFS作.ICP-MS作這兩個(gè)東東很煩。


      二十七、一般資料中都說不能在Cl含量高溶液中測As,但我做過紫菜中的As,稀釋50倍測定的結(jié)果和稀釋前完全吻合,用標(biāo)準(zhǔn)加入法測定也是一樣的結(jié)果,但結(jié)果與AFS的差很大,有沒有大蝦能解決這個(gè)問題。Cl的濃度要多大時(shí)才會對測定有影響
      1. 稀釋在這里應(yīng)該是沒有作用的。因?yàn)镃l和As同步稀釋。如果寫了校正方程,Cl干擾應(yīng)該可以被校正。建議估計(jì)一下紫菜中氯含量,配置相當(dāng)濃度的鹽酸溶液(無砷),看看在75有多少計(jì)數(shù),相當(dāng)多少量的砷,就可以估計(jì)出Cl的影響了。。
      2. 還可以采用CCT技術(shù)來消除CL的干擾, 很靈的.CCT是碰撞池技術(shù)。是引入He、H2等混合氣,消除在ICP-MS測定As-75,Se-80等時(shí)由于ArCl-75,Ar2-80的多原子干擾。
      3. ArCl干擾呀。用動態(tài)反映池可以消除。一般采用硝酸體系,盡量避免鹽酸體系。紫菜中的As,你做的是總量,可以用溶劑萃取,做進(jìn)一步的形態(tài)分析。紫菜中的As含量還是很高的。


      二十八、在使用HF溶樣的情況下能否測量其中的痕量硅?比如說氧化鉭
      1. 比較難, 如果使用高純氬, 并且溶樣時(shí)不用硝酸, 可能好一些。
      2. 第一,測Si時(shí)溶樣加HF一定要小心Si形成SiF4跑了。
      第二,盡量避免加HNO3,N有干擾。
      第三,試試用堿熔。
      3. 推薦使用偏硼酸鋰。
      4. 堿熔空白較高,可用HF熔解,水浴低溫下加熱,別超過60度。
      5. 你作的是半導(dǎo)體吧,這個(gè)要求就高了,用半導(dǎo)體級別的硝酸和氫氟酸體系可以解決問題,都不是難容的東西,但是你的儀器要用聚四氟乙烯的體系,應(yīng)該配備了專業(yè)的氫氟酸體系吧。
      若用碰撞池作低含量的硅沒有問題,高含量的硅不帶ORS的儀器也可作。


      二十九、ICP-MS做Hg時(shí)系統(tǒng)清洗有什么好辦法嗎?
      1. 在清洗液中加點(diǎn)金(Au)的化合物, Au與Hg易結(jié)合形成絡(luò)合物。
      2. 一般的濃度是10PPM,這樣就能比較好的清洗Hg的殘留了。
      3. 用ICP-MS作汞最好不要作高濃度的,汞容易揮發(fā),倒出跑!一般作<20ppb的比較好操作。
      4. 我現(xiàn)在用0.1%巰基乙醇。
      5. 用金溶液是經(jīng)驗(yàn)溶液,效果比較好。


      三十、采用等離子體質(zhì)譜測定地球化學(xué)樣品中銀時(shí),重現(xiàn)性非常差,難以報(bào)出正確結(jié)果,請教哪位老師有好的解決方法?
      1. 一、是你硝解的問題,和采樣的問題。
      二、先用同一溶液測定幾次看重現(xiàn)性如何。
      三、若是樣品一會高銀一會低銀,那一定測不準(zhǔn),因?yàn)殂y的記憶效應(yīng)不容易去掉,好好清洗吧~~~
      2. 銀的標(biāo)準(zhǔn)溶液不能放置時(shí)間過長,地球化學(xué)樣品銀的測定主要是干擾問題。


      三十一、在ICP-MS的日常維護(hù)中除了清洗錐和霧化器還有什么東西要注意的,清洗的時(shí)間隔多長?我今天換了個(gè)新錐,做完以后清洗時(shí)發(fā)現(xiàn)樣品錐和截取錐上都有一層藍(lán)色的東西洗不掉,請問有什么辦法嗎
      1. 用拋光氧化鋁粉擦。
      2. 可以用幼砂紙打磨。
      3. 危險(xiǎn),還是要廠家自己處理的好,PT錐和NI錐都應(yīng)該有此服務(wù)的。該換的時(shí)候還是應(yīng)該換的。
      4. 以5%硝酸清洗即可。
      5. 可以用鏡面砂紙打磨呀,沒問題的,但我覺得不能用酸洗,尤其是鎳錐,洗過之后,表面發(fā)鎢,很難擦的。
      6. 可以用稀硝酸超聲清洗,具體可以看說明書。我看說明書上沒有打磨的建議,維修工程師也不建議這樣做。
      7. 我的意見是用拋光氧化鋁粉擦,不過用鏡相砂紙(很細(xì)的一種)打磨也可以。
      8. 最重要外邊都不要緊 椎口不要造成磨損,不然影響儀器正常使用,而且下次會很快富集。
      9. 不同公司的儀器的維護(hù)方法不同。一般在5%的HNO3中浸泡5分鐘即可。有些儀器在兩個(gè)錐后面有-100V到-4000V的提取電壓,錐上的沾污會被提取電壓拉入質(zhì)譜儀中,所以需要清洗徹底一些,比如氧化鋁粉擦亮;蛘呓葸^夜。有什么問題最好直接問儀器廠家。不同儀器維護(hù)方法不同,不能通用,否則可能會對錐造成損壞。如果用氧化鋁粉擦拭時(shí)尤其要注意錐口的里面。
      10. 5%硝酸洗,或者浸泡,注意時(shí)間要短!
      11. 用脫脂棉蘸氧化鋁粉擦拭。
      12. 可以用醋酸試一試。我們都是這么洗得。
      13. 建議還是用硝酸洗,用鋁粉雖然洗的很干凈,但是Al的背景很難做下來,而且這樣比較耗費(fèi)儀器器件。
      14. 最好少洗錐,否則你要調(diào)節(jié)離子透鏡好長時(shí)間,穩(wěn)定達(dá)到新平衡好長時(shí)間。


      三十二、ICP-MS的循環(huán)冷卻水可以用離子交換水嗎?
      1. 最好是蒸餾水。
      2. 蒸餾水或去離子水應(yīng)該都可以,關(guān)鍵要水的質(zhì)量好就行。
      3. 蒸餾水或去離子水應(yīng)該都可以,關(guān)鍵要水的質(zhì)量好就行。
      4. 用蒸餾水的目的除了考慮微生物外,還因?yàn)橛械碾x子交換水僅使用陰陽樹脂進(jìn)行去離子處理,過濾效果較差,很易產(chǎn)生懸浮物沉積。
      5. 蒸餾水或二次水即可,每箱加一瓶異丙醇 還有一點(diǎn),留意一下水箱內(nèi)的水界面,及時(shí)添加防止水過少,循環(huán)冷卻效率受影響呦.至于什么時(shí)候更換,也可以用膠管抽一些出來如果呈淡綠色那肯定是該換了。


      三十三、ICP-MS測Ni,最近在做樣品時(shí)發(fā)現(xiàn)測Ni時(shí)空白記數(shù)很高,測量過程中會慢慢降低的問題。一般要燒1-2h左右才能穩(wěn)定,下次測量還是同樣的問題。先是估計(jì)進(jìn)樣和取樣的錐用的時(shí)間太長了,換過錐后不久,問題依舊。
      1. 如果樣品中有Fe,Ca可能會有干擾。你試下多做原子量60和59的Ni。
      2. 選一個(gè)本底低的譜線。
      3. 做低含量Ni最好用Pt錐。
      4. 有可能是采樣錐錐口老化了,最簡單的辦法,換套新錐試試。
      5. 測低量的調(diào)高靈敏度是一個(gè)辦法,若不是,你測的是什么基體?一般新錐的錐口也需要穩(wěn)定,高靈敏度唯一的缺點(diǎn)就是太消耗儀器。
      6. 把四極桿清洗一下,就什么事都沒有了。
      7. 是不是系統(tǒng)被粘污了,(包括霧化系統(tǒng)以及四極桿等)。首先更換霧化系統(tǒng)及炬管,如果問題,那問題可能在四極桿系統(tǒng)了。如果不清洗,在不測高含量鎳的情況下,至少半年以上能得到改善!
      8. Fe有一個(gè)原子量57.9的同位素,CaO的也是58所以會對Ni57.9有影響。
      9. 用碰撞池He模式,測58Ni,可以很好地消除40Ar18O、40Ca18O、23Na35Cl的干擾。


      三十四、半定量,為何29和33處出現(xiàn)巨大的峰.29Si和33S能測?
      1. 主要是N2H和O2H造成的, 低含量的不太好測, 如果測SI, 最好用HCL介質(zhì)和高純氬氣, 會好些。
      2. 我這里經(jīng)常做半定量分析的。有用內(nèi)標(biāo)和不用內(nèi)標(biāo)兩種方法,通常選擇不用內(nèi)標(biāo)的方法。
      3. 我做過,推薦不使用內(nèi)標(biāo),很簡單的,編一個(gè)半定量方法,采集一個(gè)空白溶液,一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)溶液(可用調(diào)諧液)和樣品溶液,用標(biāo)液較一下可得半定量結(jié)果。


      三十五、我用的是安捷倫的,為什么用AUTO TUNE調(diào)機(jī)總不能得到好的效果?
      1. 一般機(jī)器調(diào)協(xié)不必要用到auto tune,auto tune建議只用來作em的。agilent的用戶手冊上有各個(gè)的調(diào)節(jié)范圍你可以從各項(xiàng)調(diào)節(jié)范圍來作。最常用的時(shí)炬管的位置的3個(gè)參數(shù),在劃條上慢慢的調(diào)節(jié)看到信號有向上升的趨勢后又下降,調(diào)節(jié)到信號的波峰。每項(xiàng)都這樣條。并且不用天天調(diào)節(jié),下次調(diào)節(jié)信號的cps差<30% 就可以了。
      2. 推薦調(diào)EM用自動,其他參數(shù)均可手動,電壓也可以調(diào),儀器手冊有范圍,調(diào)多了經(jīng)驗(yàn)就出來了。


      三十六、今天配巖石樣的標(biāo)準(zhǔn)序列:有標(biāo)準(zhǔn)高濃度10000ng/ml溶液,如何稀釋到500、250、50、25ng/ml?具體是采用的方法?大家可以討論一下,是逐步稀釋好還是其他?
      1. 盡量減少稀釋步驟了。
      2. 每次稀釋級別最好不要超百;盛標(biāo)液的瓶子要西凈,水甩掉;介質(zhì)多用5%硝酸;條件允許的話,硝酸級別需考慮。


      三十七、我們測定土壤中銀的時(shí)候遇到這樣問題,銀的標(biāo)準(zhǔn)系列(0.0,0.1,1.0,10.0)線性很好,r=0.9999486,但是標(biāo)樣結(jié)果不好,除GSS-1還接近標(biāo)準(zhǔn)值外,其它GSS-2~GSS-8都相差很大,沒有規(guī)律。樣品是用微波消解,稱樣0.05g,1%硝酸定容50毫升,微波消解時(shí)是1毫升硝酸3毫升氫氟酸于180℃ 30min,蒸干再趕兩次氫氟酸,用硝酸提取后定容的。
      應(yīng)該從標(biāo)準(zhǔn)準(zhǔn)確性和溶解完全性考慮。


      三十八、請問ICP-MS能分析飲用水的六價(jià)鉻嗎?能告訴我分析方法嗎?
      1. 不能,ICP-MS只能測總鉻。但可以接LC,通過LC柱分離后測量六價(jià)鉻。
      2. 必需接液相才能做形態(tài)分析。
      3. 分離六價(jià)鉻有很多辦法的,把ICP-MS作為檢測器就可以了。單用ICP-MS也能測量飲用水的六價(jià)鉻。只要測出總鉻不超過六價(jià)鉻的限量,就可以算合格了。


      三十九、誰能比較系統(tǒng)簡練地給介紹一下ICP-MS是干什么的?都可以在哪些領(lǐng)域里使用?
      1. ICP是電感等離子體火焰的英文縮寫MS是質(zhì)譜(mass spectrometry)ICP由于可以達(dá)到近10K的溫度所以能使樣品中的元素充分原子化,MS是按元素荷質(zhì)比(m/z)進(jìn)行分離記錄的分析方法。二者連用就是ICP-MS,ICP光源和MS中的質(zhì)量分析器決定了儀器的高分辨率和高靈敏度。
      2.ICP-MS(Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry)電感耦合等離子體質(zhì)譜,是80年代發(fā)展起來的新的分析測試技術(shù),可分析幾乎地球上所有元素(Li-U,C,O,N,F 及惰性氣體除外).它以獨(dú)特的接口技術(shù)將ICP的高溫電離特性與質(zhì)譜計(jì)的靈敏快速掃描的優(yōu)點(diǎn)相結(jié)合而形成一種新型的元素和同位素分析技術(shù),檢出限極低、動態(tài)線性范圍極寬、譜線簡單、干擾少、分析精密度高、分析速度快以及可提供同位素信息等分析特性。自1984年第一臺商品儀器問世以來,這項(xiàng)技術(shù)已從最初在地質(zhì)科學(xué)研究的應(yīng)用迅速發(fā)展到廣泛應(yīng)用于環(huán)境、半導(dǎo)體、冶金、石油、生物、醫(yī)學(xué)、核材料分析等領(lǐng)域。


      四十、儀器出現(xiàn)什么狀態(tài)時(shí),表明是錐臟了或壞了需要清洗或更換?
      1. 做優(yōu)化時(shí)如果發(fā)現(xiàn)Rh的信號比以前低了,很可能就是錐的問題。經(jīng)常洗錐是個(gè)好習(xí)慣。
      2. 主要看信號強(qiáng)度是否滿足需要,如果在一批樣品測量過程中信號強(qiáng)度逐漸明顯下降,那就要清洗錐。如果測量靈敏度很差且重現(xiàn)性也很糟,那就得考慮更換錐了,一般這時(shí),可看到錐尖明顯偏心。
      3. 樣品作qc若qc下降厲害則一般可以洗了,洗錐要注意方式方法。
      4. 好象信號漂移時(shí),就要考慮一下清洗!
      5. 在同一次測量過程中,內(nèi)標(biāo)調(diào)節(jié)幅度大于30%就應(yīng)該清洗錐,否則測量數(shù)據(jù)會有問題。


      四十一、ICP-MS儀器開機(jī)后正常,但點(diǎn)火后,炬箱及大機(jī)械泵(對錐及透鏡抽真空的)劇烈抖動,過一會現(xiàn)象有所緩和但始終沒有恢復(fù),其它附屬設(shè)備都很正常.不知原因何在?
      1. 我覺得能產(chǎn)生抖動的就是泵的問題,叫工廠的人看看。可能是不是哪里有堵塞。


      四十二、在預(yù)處理的過程中,能否加入鹽酸或王水?是不是Cl-對icp-ms測定的影響很大?請問是什么原因會造成干擾 ?
      1. 引入cl會對許多元素的測量產(chǎn)生干擾,還是盡量避免使用。
      2. icp中的Ar,N,O等元素會與樣品消化過程中引入的Cl,S,C等生成多原子離子,干擾某些元素的測定。比如ArCl會干擾As的測定。
      3. 酸產(chǎn)生的元素干擾按嚴(yán)重性依次增加的排列順序?yàn)?N,Cl,P,S,可以為消解液的選擇提供一個(gè)依據(jù)。
      4. Cl所產(chǎn)生的干擾通常是可預(yù)見的,如ArCl對As75的干擾,ClO對V51與Cr53。


      四十三、我用的ICP-MS這幾天老是熄火,10分鐘到1小時(shí)不等。開始顯示為炬管有問題,昨天顯示沒冷卻水。但我檢查后覺得有水流動,可能壓力太小,但我已經(jīng)開到4Kg了。
      是否有管到堵塞?怎樣檢查?
      我們的儀器也出過這樣情況,后來工程師查出原因,是冷卻氣流量失控,流量過大,導(dǎo)致儀器錯誤報(bào)警,從而保護(hù)熄火。換了冷卻氣的質(zhì)子流量計(jì)解決問題。所以你必須請維修工程師來檢查,千萬不要自己動手。


      四十四、顯示沒有冷卻水,老是熄火,但有水流動,可以點(diǎn)開水開關(guān)。如何檢查水的大小?如何檢查管道是否堵塞?
      1. 是不是水的壓力和流速達(dá)不到要求啊,仔細(xì)看看說明書,需要多少壓力。
      2. 或者是冷卻水的溫度達(dá)不到要求,制冷效果不行。
      3. 換新的冷卻水,試試!
      4. 先檢查一下冷卻水夠不夠多,打開水冷機(jī)的儲水罐,檢查水位,不夠則加水。
      水冷機(jī)有一進(jìn)水口和出水口分別與ICPMS主機(jī)相連,拔下進(jìn)水口,開動水冷機(jī)(不必開ICPMS)如有水循環(huán)流動,則整個(gè)管路沒堵,水冷機(jī)的泵工作正常。用桶或其它接住流出的水,若見混濁或骯臟,則需更換新水。若水管路沒問題,可看看水冷機(jī)是否能正常制冷,設(shè)定一個(gè)溫度(18~20C,ICPMS冷卻所需的),讓其工作(不必開ICPMS),拿溫度計(jì)測量一下就知道了。
      5. 我覺得是機(jī)器傳感器的問題,而不是冷卻水本身。
      6. 考慮一下電源的問題。我們的出現(xiàn)過類似的問題。



      四十五、溶劑只用DI水而不用酸可以嗎?是否一定要酸才能霧化?
      1. 沒有酸一樣可以霧化,比如分析水樣啊。
      只不過在配置較低的濃度的標(biāo)準(zhǔn)的時(shí)候,加酸改善溶液粘度,溶解的更好,減少痕量元素的吸附。
      2. 加1-3%的硝酸會更好,尤其是對Pb等元素。



      四十六、請問分析鉛、銫使用什么質(zhì)譜儀?
      1. 普通四極桿式質(zhì)譜儀分析誤差較大一些。
      2. 要看你做同位素的那些方面,并且對分析的要求程度有多高。分析PB,CS應(yīng)該用ICP-MS是可以的。一般的應(yīng)用要求四極桿也是可以滿足的。
      3. 用ICP-MS做同位素分析,精度的確比較有限,但是基本上可以得到較準(zhǔn)確的結(jié)果,Pb和Cs對ICP-MS來說是很方便測定的。
      4. 可以用TIMS,偏差小,也可以用MC-ICP-MS,精度高。
      5. 現(xiàn)在使用的比較多的為多接受固體質(zhì)譜儀,TIMS,MAT252等。ICP-MS單接受的精度差,一般不用,但是有一些要求不高的話可以用,多接受的ICP-MS可以。
      6. 四極桿ICPMS同位素分析理論精度約位0.05%RSD。
      單接受高分辨ICPMS同位素分析理論精度與四極桿ICPMS精度相當(dāng)。
      多接受高分辨ICPMS同位素分析理論精度可到0.001%。



      四十七、想請教一下冷焰測定硅、磷、硫時(shí),標(biāo)準(zhǔn)曲線做不出來,計(jì)數(shù)都是幾萬或者幾十萬,基本平行的計(jì)數(shù),溶樣品時(shí),需要用到HF酸,請問是不是哪個(gè)地方的方法不對呢?
      要測也應(yīng)該在熱焰下測,Si的第一電離能為8.152, P第一電離能為10.487,S第一電離能為10.36,冷焰下電離效率差。幾十萬的計(jì)數(shù)主要是干擾,Si28受14N14N,12CO16干擾,Si29受14N14NH,12CO16H干擾, Si30受14N16O干擾,P31受14N16OH干擾,S32受O2(32)干擾, S34受O16O18干擾?諝庵械腛2, N2,樣品基體中的H,OH,N等比要測的Si, P, S 要多得多。



      四十八、icp-ms 測土樣時(shí)的前處理過程
      1. 一般根據(jù)分析元素不同可分為酸溶和堿溶,用ICP-MS分析是一般是用酸溶法,一般稱取0.1g樣品,加入硝酸(5ml),高氯酸(2ml)和氫氟酸(5ml),放置一段時(shí)間后放在控溫電熱板上,緩慢加熱,直至高氯酸冒白煙,再加入2ml氫氟酸并蒸干,用2ml硝酸提取并且定容到100ml,這種方法可以測定大多數(shù)元素,但是不能分析易揮發(fā)元素(如Hg等)和重稀土元素。
      不知您分析的元素是哪些,樣品量有多大,如果樣品不多用密封溶樣法更佳(如微波或高壓溶樣彈等)。
      2. 用硝酸和雙氧水,比較簡單,平行性也好。
      3. 我曾經(jīng)看過一個(gè)方法:稱取0.1g樣品 然后用HNO3-HF聯(lián)合消解。按照常規(guī)的方法是HNO3-HCL-HF-HCLO4聯(lián)合消解,但是據(jù)專業(yè)人士說ICP-MS不能用HCLO4,CL元素對測定有影響。



      四十九、大家用ICP-MS分析過土壤中的Cd嗎? 有什么需要注意的?
      選線時(shí)多選兩條一般我用111和114,還有Sn和Zr對Cd有干擾,需要扣除。再來就是要注意試劑的空白,有的酸比如HF酸Cd空白有的較高,最好做之前挑選一下。可以試試看,看看這樣是否會有改進(jìn)。



      五十、ICPMS測As、Se等元素時(shí)的污染嚴(yán)重嗎?對反應(yīng)池的污染,進(jìn)樣系統(tǒng)的污染,嚴(yán)重嗎?難以清洗?
      1. 只做過一次,沒什么污染啊。
      2. 我們做了很多幾十PPb的Se,污染不嚴(yán)重。
      3. 只要不是特別高, 沒有問題的, 我做過PPM的, 沒問題。
      4. 污染的來源是樣品的本身,而不是元素的種類.As, Se等元素是不會污染進(jìn)樣系統(tǒng)和反應(yīng)池的。
      樣品基體才是污染的主體.基體簡單的樣品對儀器污染少,基體復(fù)雜樣品對儀器污染大.另外各個(gè)廠家的進(jìn)樣系統(tǒng)設(shè)計(jì)不一樣,不同儀器對樣品基體的分解效率不同,反應(yīng)池的設(shè)計(jì)及透鏡也各不相同,對污染的抗受能力也不一樣。
      5. PPM濃度的問題不大,不至于造成大的影響,但要注意外來因素的影響,如有的氬氣可含有很高含量的Se!



      五十一、我用的ICP-MS型號為PE ELAN 6000,原本是蠕動泵單通道進(jìn)樣,現(xiàn)在想再加一根進(jìn)樣管,用于添加內(nèi)標(biāo),應(yīng)如何加法?什么地方有可用的三通接口?另外,該ICP-MS和HPLC如何連接做HPLC-ICP-MS連用?有現(xiàn)成的接口出售嗎?
      1. 在進(jìn)樣的毛細(xì)管前直接加一三通,三通處接兩根進(jìn)樣管即可,一根進(jìn)樣,一根進(jìn)內(nèi)標(biāo),我都是這樣做的很好用,也很方便。
      2. 我聽工程師說在蠕動泵后加一個(gè)3通,效果不錯,但是注意死體積和溶液稀釋。



      五十二、單接收的ICP-MS能可否同位素比嗎?
      可以的,只不過精度不是很高。而且有的元素可以和多接收媲美,比如U/Pb。



      五十三、我用PE ELAN 6000測汞,樣品添加標(biāo)準(zhǔn)回收率達(dá)150-200%,而試劑空白則回收正常。樣品是食品,一克定容到250ml,用Bi做內(nèi)標(biāo)。不知道是什么原因造成樣品中汞計(jì)數(shù)升高,請各位指教。
      1.1 換一種內(nèi)標(biāo)試試。
      1.2 樣品均勻性。
      1.3 前處理步驟。
      2. 做做汞的記憶效應(yīng)試驗(yàn),測定一次后注意多清洗一下試試,因?yàn)楦邼舛鹊挠洃浶?yīng)還是不可以忽略的!



      五十四、ICP-MS能用測哪些項(xiàng)目呢?
      1. 一般來說最好的是測定超純物質(zhì)(比如純水呀等),和稀土元素等。
      由于干擾的存在,常見元素Ca,Fe,Na,K等元素測定不準(zhǔn)。但隨著儀器的發(fā)展,比如PE的動態(tài)池,熱電的碰撞池等技術(shù)的引入,可以去除部分干擾。
      與icp-aes相比,其靈敏度高,一半可以測定ppt~ppq量級,當(dāng)然取決于你的環(huán)境,還有是不是高分辨質(zhì)譜。
      2. 能應(yīng)用于環(huán)境.半導(dǎo)體.核工業(yè)臨床醫(yī)藥.石油化工.地質(zhì).法醫(yī)等多領(lǐng)域。
      3. 材料的測試,重金屬測試。



      五十五、ICP-Ms、ID-MS、ID-TIMS在測量方面有何區(qū)別,具體是測量稀土元素,或者這幾種儀器的相關(guān)知識,區(qū)別、功能、精度、缺點(diǎn)?
      ID指的是同位素稀釋法。同位素稀釋法主要是通過測定同位素比值來進(jìn)行,用ICPMS或者TIMS都可以。測試的精度來說,TIMS的同位素比值測試精度要高于ICPMS。但是測定的成本比較高,且測定速度比較慢。用ICPMS進(jìn)行稀釋法測定精度足夠了(1%)。直接用ICPMS測定的時(shí)候,精度要稍差,一般在10%-15%。對于含量很低的樣品,用ID能夠得到很好的保證。



      五十六、測樣的時(shí)候發(fā)現(xiàn)不加酸或加酸量較少時(shí),有時(shí)內(nèi)標(biāo)抑制比較嚴(yán)重,補(bǔ)加1%硝酸后,就恢復(fù)正常,怎么回事呢?大家制樣的時(shí)候,有特別控制酸度嗎?
      一般有1%左右的酸比較好。有時(shí)候不是用算,堿性溶液也行。還是和樣品的性質(zhì)有關(guān)。



      五十七、什么物質(zhì)容易產(chǎn)生負(fù)離子峰?
      這個(gè)與電離方式有關(guān),我做過激光電離氣溶膠單顆粒的實(shí)驗(yàn)。含Cl的鹽一般都很容易做出35Cl-和37Cl-的峰。另外我也做了硝酸鹽的,硫酸鹽的都有負(fù)離子產(chǎn)生。另外還觀察到了碳的團(tuán)簇負(fù)離子峰。



      五十八、icp-ms測鹵素元素的效果如何?這幾種元素(F,Cl,Br,I)都能生成正離子嗎?
      1. 應(yīng)該用庫侖方法測量,ICP-MS的效果應(yīng)該不好。
      2. 我做過Cl,Br,I,但F沒有做過,我用的儀器設(shè)置F為禁止元素,因?yàn)镕不能形成正離子。
      3. 分析Br,I是沒有問題的, 但是要用中性或微堿性介質(zhì), 酸性是不行的, Cl可以測, 但是靈敏度比較低, 適合分析PPM數(shù)量級的。
      4. 記住,ICP-MS測定的是微量元素,且有穩(wěn)定的離子譜m/e的...溴和碘可以測,但氯要視情況來定。
      5. 氟的電離電位太高不能作,溴和碘是可以作的。
      6. 氯溴碘都可以測,但因氯的電離能太高,故靈敏度很低。最好是采用堿性介質(zhì)比較穩(wěn)定,如氫氧化胺等。但值得注意的是用堿熔法處理樣品時(shí),氟亦被回收,且往往樣品中氟含量較高,極易損壞玻璃霧化器。
      7. 都是可以做的。
      檢測限:F 5 ppm(medium resolution), Cl, Br 和 I 分別為3 (high resolution), 0.08 (high resolution) and 0.03 (high resolution) ppb。
      8. 測定的時(shí)候,介質(zhì)使用氫氧化銨或者氨水。本底可以很低,并且記憶效應(yīng)很弱。
      9. 溴還好,電離的效率差不多,不像碘,不同的價(jià)態(tài)電離效率差很多。



      五十九、關(guān)于同位素稀釋法空白溶液濃度是怎么求的。也像和樣品一樣,直接在空白溶液中加入一定量富集同位素,測其同位素比值,然后根據(jù)公式計(jì)算嗎?感覺這樣好像不是太準(zhǔn)?
      1. 本來就是一樣的啊!空白里面的含量是未知的,就像樣品一樣,只是含量很低而已,空白里面的同位素比值是已知的,加入的稀釋劑同位素比值是已知的;加入的稀釋劑濃度是已知的,就剩下一個(gè)未知的就是空白的含量了。
      2. 既然是做空白,就要和原來的背景盡量相同。



      六十、各位請問,做ICP-MS試驗(yàn)時(shí)的問題:1.樣品稀釋1000倍檢測,用In做內(nèi)標(biāo),標(biāo)準(zhǔn)系列中內(nèi)標(biāo)都是100%左右,而樣品中內(nèi)標(biāo)只有20%,甚至10%,這樣高的抑制率正常嗎?
      我以前的應(yīng)用(超純分析為主)很少用到內(nèi)標(biāo),無法給你很好的建議。不過建議你在樣品處理方面做些工作, 你做什么樣品?看樣子滿復(fù)雜的,稀釋1000倍后的樣品有沒有進(jìn)行酸化?可試試加熱消解一下,有助于分解樣品中的基體。



      六十一、ICP-MS測雜質(zhì)元素K、Na如何,是否一定要去除基體?
      1. 鉀、鈉在自然界中存在較多。所以測量的時(shí)候必須足夠的稀釋。本底要干凈,由于兩種元素的靈敏度都十分高,所以需要用冷焰。
      2. 只要溶液瓶、所用試劑、所用水能夠保證高純,就能做出來,曲線還不錯,就是標(biāo)準(zhǔn)溶液大概要一周重新配一次。



      六十二、冷卻水流速太低?什么原因?是不是循環(huán)水裝置,那個(gè)過濾網(wǎng)太臟了,我們的過濾網(wǎng)外塑料殼拆不下來,好像粘上了一樣,每次換水,只能超聲一下,是不是這個(gè)原因造成水流速過低?
      1. 可能是其他地方也有類似的情況。再檢查一下現(xiàn)在的水壓是不是比原來低了。調(diào)高看看。
      2. 壓力不足吧。
      3.建議徹底清潔一下,然后調(diào)整水的更換周期,可能含有微生物污染物較高,同時(shí)如果條件具備的話,請?zhí)岣咴|(zhì)量!



      六十三、一般文獻(xiàn)中提到的是 方法檢出限還是儀器的檢出限,應(yīng)該是用樣品空白測的吧。如果是儀器檢出限用2%的硝酸??還有就是檢出限是用空白的濃度求出,還是先用其CPS值求出CPS的偏差呢?
      1. 檢出限表示分析方法、分析體系檢測功能優(yōu)劣的一個(gè)重要指標(biāo)。它的含義是:在確定的分析體系中可以檢測的元素最低濃度或含量。它屬于定性范疇。若被測元素在分析試樣中的含量高于檢出限,則它可以被檢出;反之,則不能檢出。檢出限受空白值大小及標(biāo)準(zhǔn)偏差的影響。
      IUPAC于1975年推薦檢出限的定義:“檢出限以濃度(或質(zhì)量)表示,指由特定的分析方法能夠合理地檢測出的最小分析信號xL求得的最低濃度cL(或質(zhì)量qL)”,表達(dá)式為:
      cL(或qL)=(xL-b)/m=KSb/m
      式中m為分析校準(zhǔn)曲線在低濃度范圍內(nèi)的斜率;b為空白平均值;Sb為空白標(biāo)準(zhǔn)偏差。測定次數(shù)為20次,IUPAC建議K=3作為檢出限計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)。
      AMC(分析方法委員會)推薦真實(shí)空白,但在實(shí)際分析中,它有時(shí)很難得到。許多分析工作者使用試劑空白或接近空白。不同學(xué)者對接近空白有不同的定義,分析元素的含量為檢出限的2-5倍。
      2. K=3也是有根據(jù)的,其實(shí)真正的檢測限計(jì)算公式還考慮到了測定結(jié)果的置信度:
      LOD = 2 squ(2)*t*SD
      其中squ(2)即根號2,t為特定置信度下的單邊值,如果測定次數(shù)為11次,t=2.2,這樣計(jì)算出來SD前面的系數(shù)就是3.3左右,如果為20次平行測定,系數(shù)則為3。



      六十四、ICP-MS 測 Os ,基本上是關(guān)于前處理的,由于Os的揮發(fā)性在處理過程中很容易損失,看文獻(xiàn)上用同位素稀釋法做的比較多,還有其他方法嗎?誰有這方面的經(jīng)驗(yàn)介紹一下,直接測量的話是不是很不準(zhǔn)?
      1.要準(zhǔn)確測定Os,必需要用同位素稀釋法,因?yàn)镺s具有揮發(fā)性,并且不同價(jià)態(tài)其靈敏度不一樣,八價(jià)Os 具有最高靈敏度,是其他價(jià)態(tài)的20-30倍,普通方法很難準(zhǔn)確測定。樣品溶解方法有Na2O2熔融法,Carius tube 法。樣品溶解后,蒸餾分離,用H2O,HCl 或HBr 吸收。

      2. 一般不用HBr吸收,會把Os還原為低價(jià)的,用HCl吸收,效果比較好。也有人用Br2萃取Os,然后用Cr2O3氧化Os,再進(jìn)行微蒸餾。不過這樣做的回收率比較低。



      六十五、我單位在測定海水樣品,不知能否直接進(jìn)樣.氯離子是否有影響,如果有影響,怎樣去除干擾?
      1. 我單位在測定海水樣品,不知能否直接進(jìn)樣.氯離子是否有影響,如果有影響,怎樣去除干擾。
      2. 可以直接進(jìn)樣的。aglient儀器好像可以不稀釋就能測。我一般是稀釋15倍測試。
      3. 如果不稀釋,基體效應(yīng)會很大,稀釋后某些元素含量低,可能也不能測定,必需要富集。能直接測定的元素非常少。
      4. 一般用共沉淀比較簡單。



      六十六、為什么不用做標(biāo)準(zhǔn)曲線就可以給出一大概的濃度呢?誤差一般大多少呢?
      1. 其實(shí)是做了工作曲線的?瞻滓稽c(diǎn),一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)溶液作為另一點(diǎn),兩點(diǎn)定標(biāo),所以只能是半定量。
      2. 就是通過一個(gè)空白一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)來定量的,至于誤差么,要看做什么,用什么儀器做的了,不過總之,誤差是比較大的。
      3. 半定量模式應(yīng)用的是各元素靈敏度間的關(guān)系,對于一臺儀器爾言,這個(gè)關(guān)系應(yīng)該是固定的。用定量元素繪制半定量曲線,各元素的靈敏度關(guān)系就都出來了。半定量曲線使用二次回歸方程。有些元素理論靈敏度與實(shí)際靈敏度不一定相符,這是半定量結(jié)果不準(zhǔn)確的原因之一,需要經(jīng)驗(yàn)校正。繪制半定量曲線,選擇定量元素很重要。



      六十七、請問磺基水楊酸水溶液是用來絡(luò)合Fe 嗎?測定下線有點(diǎn)高,達(dá)到1ng/g,現(xiàn)在對低含量地質(zhì)樣品要求測定限到0.01 以下(已有文獻(xiàn)報(bào)道),例如玄武巖,輝長巖等(主要IPGE低,有時(shí)<0.1ng/g),超基性巖IPGE(Os,Ir,Ru)高,比較好作一些 。依照本人經(jīng)驗(yàn),用Te共沉淀時(shí)最后溶液中Cu,Ni,Zr 濃度較高,嚴(yán)重干擾低含量樣品中Rh(ArCu)和105Pd,及106Pd (ZrO)測定。不知用Mn共沉淀時(shí)有無此現(xiàn)象。
      1. Cu,Ni,Zr高可以用p507樹脂除去。不影響測試。用陽離子樹脂+P507樹脂聯(lián)合。
      2. 聽說,P507 對Zr,Hf 特別有效,沒聽說對Cu,Ni 也行。



      六十八、使用的SPEX的CLMS-4標(biāo)準(zhǔn),它標(biāo)注的介質(zhì)是H2O/Tr.HF,表示多少濃度的HF酸呢?
      Tr HF 應(yīng)該是 trace HF, 因?yàn)檫@個(gè)標(biāo)準(zhǔn)里面有Nb,Ta,Zr,Hf, 需要微量HF來穩(wěn)定Nb,Ta,Zr,Hf。



      六十九、儀器ICP-MS 原料:食品,土壤。請問:一般的消化時(shí)應(yīng)該注意什么?
      1. 建議先高溫下(500度以上)烘2小時(shí),再用微波消解.我作過奶粉中的微量元素。直接消解問題多多.特別是蛋白質(zhì)多的樣品。
      2. 先高溫下(500度以上)烘2小時(shí),會有一些低溫元素?fù)p失。建議直接用高壓微波消解,注意中低壓的微波消解不行。我曾經(jīng)使用過Milestone的高壓微波消解,效果不錯。
      3. 密兒私通之所以有厚厚“一大本”方法,是因?yàn)閮x器控制水平不高,不同樣品、樣品量、樣品個(gè)數(shù)、試劑類型、試劑量稍有變化,消解條件就要跟著變,F(xiàn)在好的儀器只需要幾個(gè)基本的方法就可以搞掂一個(gè)實(shí)驗(yàn)室的大部分樣品,如果人家的儀器好,或根本沒有微波消解,拿密兒私通的方法沒有意義的。
      電熱板:食品用硝酸-高氯酸或硝酸-雙氧水消解,土壤用王水-HF消解。
      微波:食品用硝酸或硝酸-雙氧水消解,土壤用逆王水或逆王水-HF消解。
      壓力溶彈:試劑與微波法相同,控溫烘箱100度1小時(shí),185度4小時(shí)。
      如果要測Hg,密兒私通的高壓罐子會排氣恐怕測不了,我用過CEM的高壓罐和壓力溶彈,Hg回收率是有保證的。

      七十、想用ICP-MS測橡膠、尼龍中的金屬元素(Pb、Cd、六價(jià)鉻),該如何做前處理啊?
      EPA 3052, EN 1122可以測Pb、Cd。
      EPA 3060A可以測Cr(VI)。


      文章來源:網(wǎng)絡(luò)
      編輯:songjiajie2010

       
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