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      掃描俄歇微探針（SAM）
      

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發(fā)布日期：2013-05-30

      

      核心提示：掃描俄歇微探針（SAM）；基本功能：　　（1）可進(jìn)行樣品表面的微區(qū)選點分析（包括點分析，線分析和面分析）；　�。�2）可進(jìn)行深度
      

      

       掃描俄歇微探針（SAM）；

       基本功能：
      

      　　（1）可進(jìn)行樣品表面的微區(qū)選點分析（包括點分析，線分析和面分析）；
      

      　�。�2）可進(jìn)行深度分析；
      

      　　（3）化學(xué)價態(tài)研究
      

       用途：
      
納米薄膜材料，微電子材料的表 面和界面研究及摩擦化學(xué)研究。
      

      
        
      編輯：songjiajie2010
      
  
      

      

       
      

      




      
        
      

      

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關(guān)鍵詞：
化學(xué)價態(tài)

      


       
      




      

      

      

       
      

      

  
       
      

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